IFLP/Microscopio de Fuerza Atómica
De Censo General Equipamiento
| Institución | IFLP |
|---|---|
| Denominación | Microscopio de Fuerza Atómica |
| Tipo | |
| Descripción | Microscopio de Fuerza Atómica, AFM Nt-MDT, SMENA Solver pro/electroimán longitudinal 0. Microscopía de barrido por sondas, fuerza atómica (AFM) |
| Accesorios | |
| Año | 2008 |
| Aplicaciones | Caracterización topográfica de superficies. Medidas de propiedades topográficas, eléctricas y magnéticas de superficies |
| Sistema Nacional | SNM |
| Nro. STAN | ST1509 |
| Palabras clave | caracterización superficies, topografía magnética |
| Ubicación | Laboratorio 28 |
| Sectores de transferencia CLANAE2010 | 731100, 731900, 742200 |
| Responsable equipamiento | Marcos Meyer |
| Titular del bien | CONICET |
| Nro de inventario |
Detalle de los sectores de actividad a los que se puede transferir el servicio de este equipo:
| CLANAE2010 | Denominación | Descripción |
|---|---|---|
| 731100 | Investigación y desarrollo experimental en el campo de la ingeniería y la tecnología | |
| 731900 | Investigación y desarrollo experimental en el campo de las ciencias exactas y naturales n.c.p. | |
| 742200 | Ensayos y análisis técnicos |
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| Aplicaciones | Caracterización topográfica de superficies. Medidas de propiedades topográficas + y eléctricas y magnéticas de superficies + |
| Año | 2.008 + |
| Denominación | Microscopio de Fuerza Atómica + |
| Descripción | Microscopio de Fuerza Atómica, AFM Nt-MDT, SMENA Solver pro/electroimán longitudinal 0. Microscopía de barrido por sondas, fuerza atómica (AFM) + |
| Institución | IFLP + |
| Palabras clave | caracterización superficies + y topografía magnética + |
| Responsable equipamiento | Marcos Meyer + |
| STAN | ST1509 + |
| Sectores de transferencia | 731100 +, 731900 + y 742200 + |
| Sistema Nacional | SNM + |
| Titular del bien | CONICET + |
| Ubicación | Laboratorio 28 + |
