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IFLP/Microscopio de Fuerza Atómica
Aplicaciones Caracterización topográfica de superficies. Medidas de propiedades topográficas  + , eléctricas y magnéticas de superficies  +
Año 2.008  +
Denominación Microscopio de Fuerza Atómica  +
Descripción Microscopio de Fuerza Atómica, AFM Nt-MDT, SMENA Solver pro/electroimán longitudinal 0. Microscopía de barrido por sondas, fuerza atómica (AFM)  +
Institución IFLP +
Palabras clave caracterización superficies  + , topografía magnética  +
Responsable equipamiento Marcos Meyer +
STAN ST1509  +
Sectores de transferencia 731100 + , 731900 + , 742200 +
Sistema Nacional SNM +
Titular del bien CONICET  +
Ubicación Laboratorio 28  +
Tiene consultaEsta propiedad es una propiedad especial en este wiki. IFLP/Microscopio de Fuerza Atómica +
Categorías Equipamiento  +
Fecha de modificaciónEsta propiedad es una propiedad especial en este wiki. 19 julio 2019 16:57:55  +
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