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| IFLP/Microscopio de Fuerza Atómica |
| Aplicaciones | Caracterización topográfica de superficies. Medidas de propiedades topográficas + , eléctricas y magnéticas de superficies + |
|---|---|
| Año | 2.008 + |
| Denominación | Microscopio de Fuerza Atómica + |
| Descripción | Microscopio de Fuerza Atómica, AFM Nt-MDT, SMENA Solver pro/electroimán longitudinal 0. Microscopía de barrido por sondas, fuerza atómica (AFM) + |
| Institución | IFLP + |
| Palabras clave | caracterización superficies + , topografía magnética + |
| Responsable equipamiento | Marcos Meyer + |
| STAN | ST1509 + |
| Sectores de transferencia | 731100 + , 731900 + , 742200 + |
| Sistema Nacional | SNM + |
| Titular del bien | CONICET + |
| Ubicación | Laboratorio 28 + |
| Tiene consultaEsta propiedad es una propiedad especial en este wiki. | IFLP/Microscopio de Fuerza Atómica + |
| Categorías | Equipamiento + |
| Fecha de modificaciónEsta propiedad es una propiedad especial en este wiki. | 19 julio 2019 16:57:55 + |
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