| Aplicaciones
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Caracterización topográfica de superficies. Medidas de propiedades topográficas +
, eléctricas y magnéticas de superficies +
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| Año
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2.008 +
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| Denominación
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Microscopio de Fuerza Atómica +
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| Descripción
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Microscopio de Fuerza Atómica, AFM Nt-MDT, SMENA Solver pro/electroimán longitudinal 0. Microscopía de barrido por sondas, fuerza atómica (AFM) +
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| Institución
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IFLP +
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| Palabras clave
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caracterización superficies +
, topografía magnética +
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| Responsable equipamiento
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Marcos Meyer +
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| STAN
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ST1509 +
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| Sectores de transferencia
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731100 +
, 731900 +
, 742200 +
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| Sistema Nacional
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SNM +
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| Titular del bien
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CONICET +
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| Ubicación
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Laboratorio 28 +
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| Tiene consultaEsta propiedad es una propiedad especial en este wiki.
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IFLP/Microscopio de Fuerza Atómica +
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| Categorías |
Equipamiento +
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| Fecha de modificaciónEsta propiedad es una propiedad especial en este wiki.
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19 julio 2019 16:57:55 +
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