IFLP/Microscopio de Fuerza Atómica

De Censo General Equipamiento
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Institución IFLP
Denominación Microscopio de Fuerza Atómica
Tipo
Descripción Microscopio de Fuerza Atómica, AFM Nt-MDT, SMENA Solver pro/electroimán longitudinal 0. Microscopía de barrido por sondas, fuerza atómica (AFM)
Accesorios
Año 2008
Aplicaciones Caracterización topográfica de superficies. Medidas de propiedades topográficas, eléctricas y magnéticas de superficies
Sistema Nacional SNM
Nro. STAN ST1509
Palabras clave caracterización superficies, topografía magnética
Ubicación Laboratorio 28
Sectores de transferencia CLANAE2010 731100, 731900, 742200
Responsable equipamiento Marcos Meyer
Titular del bien CONICET
Nro de inventario

Detalle de los sectores de actividad a los que se puede transferir el servicio de este equipo:

CLANAE2010 Denominación Descripción
731100 Investigación y desarrollo experimental en el campo de la ingeniería y la tecnología
731900 Investigación y desarrollo experimental en el campo de las ciencias exactas y naturales n.c.p.
742200 Ensayos y análisis técnicos
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Año2.008 +
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DescripciónMicroscopio de Fuerza Atómica, AFM Nt-MDT, SMENA Solver pro/electroimán longitudinal 0. Microscopía de barrido por sondas, fuerza atómica (AFM) +
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Palabras clavecaracterización superficies + y topografía magnética +
Responsable equipamientoMarcos Meyer +
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Sectores de transferencia731100 +, 731900 + y 742200 +
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Titular del bienCONICET +
UbicaciónLaboratorio 28 +