Diferencia entre revisiones de «IFLP/Microscopio de Fuerza Atómica»

Última revisión de 13:57 19 jul 2019

Institución	IFLP
Denominación	Microscopio de Fuerza Atómica
Tipo
Descripción	Microscopio de Fuerza Atómica, AFM Nt-MDT, SMENA Solver pro/electroimán longitudinal 0. Microscopía de barrido por sondas, fuerza atómica (AFM)
Accesorios
Año	2008
Aplicaciones	Caracterización topográfica de superficies. Medidas de propiedades topográficas, eléctricas y magnéticas de superficies
Sistema Nacional	SNM
Nro. STAN	ST1509
Palabras clave	caracterización superficies, topografía magnética
Ubicación	Laboratorio 28
Sectores de transferencia CLANAE2010	731100, 731900, 742200
Responsable equipamiento	Marcos Meyer
Titular del bien	CONICET
Nro de inventario

Detalle de los sectores de actividad a los que se puede transferir el servicio de este equipo:

CLANAE2010	Denominación	Descripción
731100	Investigación y desarrollo experimental en el campo de la ingeniería y la tecnología
731900	Investigación y desarrollo experimental en el campo de las ciencias exactas y naturales n.c.p.
742200	Ensayos y análisis técnicos

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 |Palabras clave=caracterización superficies, topografía magnética
 |Ubicación=Laboratorio 28
+|Sectores de transferencia=731100, 731900, 742200,
 |Responsable equipamiento=Marcos Meyer
 |Titular del bien=CONICET
 }}