Atributo:Palabras clave

Esta es una propiedad de tipo Cadena de caracteres.

Paginas usando el atributo “Palabras clave”

Mostrando 25 páginas que usan esta propiedad.

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C
CEPAVE/microscopio nikon e200 +	Microscopio  +, marca Nikon  +
CEPAVE/olimpus/bx51tf +	Fluorescencia  +
CEQUINOR/Analizador Termogravimétrico SHIMADZU TGA 50 +	Termobalanza  +
CEQUINOR/Analizador diferencial SHIMADZU DTA 50 +	Termobalanza  +
CEQUINOR/BRUKER EQUINOX +	Equinox  +
CEQUINOR/BRUKER IFS 66 +	Bruker  +
CEQUINOR/Cromotógrafo de gases Shimadzu +	Cromatógrafo  +
CEQUINOR/Difractómetro de Rayos X de mesa +	Difractómetro  +
CEQUINOR/Espectrofotómetro Shimadzu +	Espectrofotómetro  +
CEQUINOR/Espectrofotómetro UV-VIS Hewlett Packard +	Espectrofotómetro  +
CEQUINOR/Espectrofotómetro UV-VIS Shimadzu +	Espectrofotómetro  +
CEQUINOR/Espectrometro Raman Horiba Jobin Yvon +	Espectrómetro Raman  +
CEQUINOR/Espectroscopía de Matrices +	Matrices  +
CEQUINOR/Espectómetro infrarrojo Nexus FTIR +	FTIR Nicoleth Nexus  +
CEQUINOR/Potenciostato/Galvanostato EG&G +	Potenciostato  +
CETMIC/Difractómetro de rayos X +	Difracción de rayos X- Análisis de composición-  +
CETMIC/Dilatómetro hasta 1500 C, Netzsch. +	dilatómetro- dilatometría-evaluación térmica  +
CETMIC/Equipo analizador de DTP +	tamaño de partícula-tamaño medio-distribución de tamaños  +
CETMIC/Equipo analizador de Punto Zero Carga +	potencial z-tamaño de partícula- carga superficial-movilidad electroforética  +
CETMIC/Equipo de ATD TG +	ATD TG  +, Analisis Térmico Diferencial  +, Termogravimétrico  +, …
CETMIC/Equipo de Difracción de Rayos X +	Análisis quimico  +, Difracción de Rayos X  +, polvos cerámicos  +
CETMIC/Equipo de Medida de Módulo de Flexión de materiales refractarios +	Hot Mor  +, flexión en caliente  +, materiales cerámicos  +
CETMIC/Equipo para determinación de módulo elástico +	determinación de módulo elástico en materiales  +
CETMIC/Equipo para determinar Punto Isoeléctrico de Pastas +	punto cero carga  +
CETMIC/Equipo para secado adiabatico por aspersión +	spray dry  +

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