IFLP/Difractómetro Oxford Gemini
De Censo General Equipamiento
| Institución | IFLP |
|---|---|
| Denominación | Difractómetro de monocristales |
| Tipo | |
| Descripción | Difractómetro automático para el estudio de muestras monocristalinas con monocromador de grafito y doble fuente de Rayos X (Cu y Mo) |
| Accesorios | detector CCD EOS y dispositivo de alta y baja temperatura (90- 900K) |
| Año | 2009 |
| Aplicaciones | materiales cristalinos orgánicos, inorgánicos y complejos metálicos |
| Sistema Nacional | SNRX |
| Nro. STAN | |
| Palabras clave | |
| Ubicación | |
| Sectores de transferencia CLANAE2010 | 731100, 731900, 742200 |
| Responsable equipamiento | Gustavo Echeverría |
| Titular del bien | CONICET |
| Nro de inventario |
Detalle de los sectores de actividad a los que se puede transferir el servicio de este equipo:
| CLANAE2010 | Denominación | Descripción |
|---|---|---|
| 731100 | Investigación y desarrollo experimental en el campo de la ingeniería y la tecnología | |
| 731900 | Investigación y desarrollo experimental en el campo de las ciencias exactas y naturales n.c.p. | |
| 742200 | Ensayos y análisis técnicos |
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| Accesorios | detector CCD EOS y dispositivo de alta y baja temperatura (90- 900K) + |
| Aplicaciones | materiales cristalinos orgánicos + y inorgánicos y complejos metálicos + |
| Año | 2.009 + |
| Denominación | Difractómetro de monocristales + |
| Descripción | Difractómetro automático para el estudio de muestras monocristalinas con monocromador de grafito y doble fuente de Rayos X (Cu y Mo) + |
| Institución | IFLP + |
| Responsable equipamiento | Gustavo Echeverría + |
| Sectores de transferencia | 731100 +, 731900 + y 742200 + |
| Sistema Nacional | SNRX + |
| Titular del bien | CONICET + |
