| Accesorios
|
detector CCD EOS y dispositivo de alta y baja temperatura (90- 900K) +
|
| Aplicaciones
|
materiales cristalinos orgánicos +
, inorgánicos y complejos metálicos +
|
| Año
|
2.009 +
|
| Denominación
|
Difractómetro de monocristales +
|
| Descripción
|
Difractómetro automático para el estudio de muestras monocristalinas con monocromador de grafito y doble fuente de Rayos X (Cu y Mo) +
|
| Institución
|
IFLP +
|
| Responsable equipamiento
|
Gustavo Echeverría +
|
| Sectores de transferencia
|
731100 +
, 731900 +
, 742200 +
|
| Sistema Nacional
|
SNRX +
|
| Titular del bien
|
CONICET +
|
| Tiene consultaEsta propiedad es una propiedad especial en este wiki.
|
IFLP/Difractómetro Oxford Gemini +
|
| Categorías |
Equipamiento +
|
| Fecha de modificaciónEsta propiedad es una propiedad especial en este wiki.
|
22 julio 2019 11:35:33 +
|
