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| IFLP/Difractómetro Oxford Gemini |
| Accesorios | detector CCD EOS y dispositivo de alta y baja temperatura (90- 900K) + |
|---|---|
| Aplicaciones | materiales cristalinos orgánicos + , inorgánicos y complejos metálicos + |
| Año | 2.009 + |
| Denominación | Difractómetro de monocristales + |
| Descripción | Difractómetro automático para el estudio de muestras monocristalinas con monocromador de grafito y doble fuente de Rayos X (Cu y Mo) + |
| Institución | IFLP + |
| Responsable equipamiento | Gustavo Echeverría + |
| Sectores de transferencia | 731100 + , 731900 + , 742200 + |
| Sistema Nacional | SNRX + |
| Titular del bien | CONICET + |
| Tiene consultaEsta propiedad es una propiedad especial en este wiki. | IFLP/Difractómetro Oxford Gemini + |
| Categorías | Equipamiento + |
| Fecha de modificaciónEsta propiedad es una propiedad especial en este wiki. | 22 julio 2019 11:35:33 + |
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