CINDECA/Microscopio Electrónico de Barrido y Microsonda EDS

De Censo General Equipamiento
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Institución CINDECA
Denominación Microscopio Electrónico de Barrido y Microsonda EDS
Tipo pesado
Descripción PHILIPS, MOD.SEM - 505
Accesorios Unidad detectora por rayos X de los elementos del B al U c/ventana de material Sutw (Super Ultra) SDD (Silicon Drift Detector) Marca: Apollo X EDAX Analizador multicanal DPP III PV 8200/01/G3 Marca: EDAX Modelo: DPP III PV 8200/01/G3
Año 1983
Aplicaciones Geología: Estudio morfológico/estructural y análisis químico de las muestras. Materiales: Cerámicos, Semiconductores, Polímeros, etc. Estudios de composición y características granulométricas. Metalurgia: Análisis de falla, características texturales y microanálisis químico. Odontología, Medicina, La representación de la cadena "Botánica: Estud … es mencionadas." es demasiado grande.
Sistema Nacional SNM
Nro. STAN 417
Palabras clave Microscopio, SEM, MEB
Ubicación Subsuelo Edificio CINDECA
Sectores de transferencia CLANAE2010 731100, 731300, 731900, 742200
Responsable equipamiento Lic. Mario Sanchez
Titular del bien CONICET
Nro de inventario 47495

Detalle de los sectores de actividad a los que se puede transferir el servicio de este equipo:

CLANAE2010 Denominación Descripción
731100 Investigación y desarrollo experimental en el campo de la ingeniería y la tecnología
731300 Investigación y desarrollo experimental en el campo de las ciencias agropecuarias
731900 Investigación y desarrollo experimental en el campo de las ciencias exactas y naturales n.c.p.
742200 Ensayos y análisis técnicos
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AccesoriosUnidad detectora por rayos X de los elementos del B al U c/ventana de material Sutw (Super Ultra) SDD (Silicon Drift Detector) Marca: Apollo X EDAX Analizador multicanal DPP III PV 8200/01/G3 Marca: EDAX Modelo: DPP III PV 8200/01/G3 +
AplicacionesGeología: Estudio morfológico/estructural y análisis químico de las muestras. Materiales: Cerámicos +, Semiconductores +, Polímeros +, etc. Estudios de composición y características granulométricas. Metalurgia: Análisis de falla +, características texturales y microanálisis químico. Odontología + y Medicina +
Año1.983 +
DenominaciónMicroscopio Electrónico de Barrido y Microsonda EDS +
DescripciónPHILIPS, MOD.SEM - 505 +
InstituciónCINDECA +
Nro de inventario47495 +
Palabras claveMicroscopio +, SEM + y MEB +
Responsable equipamientoLic. Mario Sanchez +
STAN417 +
Sectores de transferencia731100 +, 731300 +, 731900 + y 742200 +
Sistema NacionalSNM +
Tipopesado +
Titular del bienCONICET +
UbicaciónSubsuelo Edificio CINDECA +