Diferencia entre revisiones de «IFLP/Difractómetro X´Pert»

De Censo General Equipamiento
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|Institución=IFLP
 
|Institución=IFLP
 
|Denominación=Difractómetro de polvo X’Pert PRO
 
|Denominación=Difractómetro de polvo X’Pert PRO
|Descripción=PANalytical X'PERT PRO. Difractómetro automático de muestras policristalinas y accesorios para medidas de difracción a ángulo rasante.
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|Descripción=PANalytical X'PERT PRO. Difractómetro automático de muestras policristalinas con geometría theta-theta y accesorios para medidas de difracción a ángulo rasante.
 
|Accesorios=Óptica y monocromador apto para el estudio de superficies y láminas delgadas
 
|Accesorios=Óptica y monocromador apto para el estudio de superficies y láminas delgadas
 
|Año=2004
 
|Año=2004

Última revisión de 11:13 22 jul 2019

Institución IFLP
Denominación Difractómetro de polvo X’Pert PRO
Tipo
Descripción PANalytical X'PERT PRO. Difractómetro automático de muestras policristalinas con geometría theta-theta y accesorios para medidas de difracción a ángulo rasante.
Accesorios Óptica y monocromador apto para el estudio de superficies y láminas delgadas
Año 2004
Aplicaciones identificación de fases, análisis cualitativo y cuantitativo de fases cristalinas, análisis estructural (efecto de tensiones y tamaños de grano) y análisis de superficies.
Sistema Nacional SNRX
Nro. STAN
Palabras clave Difracción de rayos X, polvos policristalinos, Ángulo rasante, Estudios de superficie
Ubicación Laboratorio 12
Sectores de transferencia CLANAE2010 731100, 731900, 742200
Responsable equipamiento Verónica Ferraresi Curotto
Titular del bien UNLP, FOMEC
Nro de inventario

Detalle de los sectores de actividad a los que se puede transferir el servicio de este equipo:

CLANAE2010 Denominación Descripción
731100 Investigación y desarrollo experimental en el campo de la ingeniería y la tecnología
731900 Investigación y desarrollo experimental en el campo de las ciencias exactas y naturales n.c.p.
742200 Ensayos y análisis técnicos
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AccesoriosÓptica y monocromador apto para el estudio de superficies y láminas delgadas +
Aplicacionesidentificación de fases +, análisis cualitativo y cuantitativo de fases cristalinas + y análisis estructural (efecto de tensiones y tamaños de grano) y análisis de superficies. +
Año2.004 +
DenominaciónDifractómetro de polvo X’Pert PRO +
DescripciónPANalytical X'PERT PRO. Difractómetro automático de muestras policristalinas con geometría theta-theta y accesorios para medidas de difracción a ángulo rasante. +
InstituciónIFLP +
Palabras claveDifracción de rayos X +, polvos policristalinos +, Ángulo rasante + y Estudios de superficie +
Responsable equipamientoVerónica Ferraresi Curotto +
Sectores de transferencia731100 +, 731900 + y 742200 +
Sistema NacionalSNRX +
Titular del bienUNLP, FOMEC +
UbicaciónLaboratorio 12 +