Diferencia entre revisiones de «CINDECA/Microscopio Electrónico de Barrido y Microsonda EDS»

Última revisión de 10:12 17 jul 2019

Institución	CINDECA
Denominación	Microscopio Electrónico de Barrido y Microsonda EDS
Tipo	pesado
Descripción	PHILIPS, MOD.SEM - 505
Accesorios	Unidad detectora por rayos X de los elementos del B al U c/ventana de material Sutw (Super Ultra) SDD (Silicon Drift Detector) Marca: Apollo X EDAX Analizador multicanal DPP III PV 8200/01/G3 Marca: EDAX Modelo: DPP III PV 8200/01/G3
Año	1983
Aplicaciones	Geología: Estudio morfológico/estructural y análisis químico de las muestras. Materiales: Cerámicos, Semiconductores, Polímeros, etc. Estudios de composición y características granulométricas. Metalurgia: Análisis de falla, características texturales y microanálisis químico. Odontología, Medicina, La representación de la cadena "Botánica: Estud … es mencionadas." es demasiado grande.
Sistema Nacional	SNM
Nro. STAN	417
Palabras clave	Microscopio, SEM, MEB
Ubicación	Subsuelo Edificio CINDECA
Sectores de transferencia CLANAE2010	731100, 731300, 731900, 742200
Responsable equipamiento	Lic. Mario Sanchez
Titular del bien	CONICET
Nro de inventario	47495

Detalle de los sectores de actividad a los que se puede transferir el servicio de este equipo:

CLANAE2010	Denominación	Descripción
731100	Investigación y desarrollo experimental en el campo de la ingeniería y la tecnología
731300	Investigación y desarrollo experimental en el campo de las ciencias agropecuarias
731900	Investigación y desarrollo experimental en el campo de las ciencias exactas y naturales n.c.p.
742200	Ensayos y análisis técnicos

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 {{Equipamiento
 |Institución=CINDECA
-|Denominación=Microscopio Electrónico de Barrido
+|Denominación=Microscopio Electrónico de Barrido y Microsonda EDS
 |Tipo=pesado
 |Descripción=PHILIPS, MOD.SEM - 505
 |Accesorios=Unidad detectora por rayos X de los elementos del B al U c/ventana de material Sutw (Super Ultra) SDD (Silicon Drift Detector) Marca: Apollo X EDAX Analizador multicanal DPP III PV 8200/01/G3 Marca: EDAX Modelo: DPP III PV 8200/01/G3
 |Año=1983
+|Aplicaciones=Geología: Estudio morfológico/estructural y análisis químico de las muestras. Materiales: Cerámicos, Semiconductores, Polímeros, etc. Estudios de composición y características granulométricas. Metalurgia: Análisis de falla, características texturales y microanálisis químico. Odontología, Medicina, Botánica: Estudios morfológicos y químicos. Paleontología y Arqueología: Caracterización de aspectos morfológicos y de composición química. Control de Calidad: Seguimiento de procesos tanto morfológicos como composicionales. Peritajes: Estudios de muestras de cualquiera de las áreas antes mencionadas.
 |Sistema Nacional=SNM
 |STAN=417
 |Palabras clave=Microscopio, SEM, MEB
 |Ubicación=Subsuelo Edificio CINDECA
+|Sectores de transferencia=731100, 731300, 731900, 742200,
 |Responsable equipamiento=Lic. Mario Sanchez
 |Titular del bien=CONICET
 |Nro de inventario=47495
 }}