Datos de navegación: Equipamiento
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242200 (1) ·
242901 (1) ·
252010 (1) ·
252090 (1) ·
269302 (1) ·
281101 (1) ·
281102 (1) ·
Análisis de muestras. Método del Polvo. (1) ·
Caracterización de Defectos y Determinacadf4d80f88e71b490f922f8e5015ba7 (1) ·
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etc. (2) ·
refractarios (2) ·
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Abajo se muestran hasta 21 resultados comenzando por el n.º 1.
Ver (250 previas | 250 siguientes) (20 | 50 | 100 | 250 | 500).
C
- CETMIC/Equipo de ATD TG
- CETMIC/Equipo de Difracción de Rayos X
- CETMIC/Equipo de Medida de Módulo de Flexión de materiales refractarios
- CETMIC/Equipo para secado adiabatico por aspersión
- CETMIC/Horno para determinar Aplastamiento bajo carga
- CETMIC/Horno para determinar Variación Lineal Permanente hasta 1600°C
- CETMIC/Microscopio electrónico hasta 500 aumentos
C cont.
C cont.
- CIDEPINT/Cámara de niebla salina
- CIDEPINT/Cámara de prohesion
- CIDEPINT/Cámara de radiación QUV
- CIDEPINT/Cámara de radiación UV
- CIDEPINT/Intemperiometro de xenon
- CIDEPINT/Medidor de rugosidad
I
Ver (250 previas | 250 siguientes) (20 | 50 | 100 | 250 | 500).
