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Crecimiento de películas delgadas. Recubrimientos. (1) ·
Depósitos de películas metálicas (1) ·
Determinación de porosidad (1) ·
Determinar la adhesión de la película de pintura a un sustrato (1) ·
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óxidos y otros sistemas. Cámara reactiva en diferentes atmósferas (Ar (1)
Palabras clave:
Abajo se muestran hasta 23 resultados comenzando por el n.º 1.
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C
- CETMIC/Equipo de ATD TG
- CETMIC/Equipo de Difracción de Rayos X
- CETMIC/Equipo de Medida de Módulo de Flexión de materiales refractarios
- CETMIC/Equipo para secado adiabatico por aspersión
- CETMIC/Horno para determinar Aplastamiento bajo carga
- CETMIC/Horno para determinar Variación Lineal Permanente hasta 1600°C
- CETMIC/Microscopio electrónico hasta 500 aumentos
- CETMIC/Mufla Eléctrica hasta 1700°C con controlador
C cont.
C cont.
- CIDEPINT/Cámara de radiación QUV
- CIDEPINT/Cámara de radiación UV
- CIDEPINT/Detector de porosidad Holiday
- CIDEPINT/Intemperiometro de xenon
- CIDEPINT/Medidor de adhesión por tracción
I
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