IFLP/Espectrómetro gamma de correlaciones angulares (PAC)
De Censo General Equipamiento
Institución | IFLP |
---|---|
Denominación | Espectrómetro de Correlaciones Angulares Perturbadas Gamma-Gamma (PAC) |
Tipo | |
Descripción | CANBERRA-ORTEC. 2 Espectrómetros (N°1 y N° 2) de 4 detectores de BaF2, sondas 181Hf -111In |
Accesorios | criógeno, bomba de vacío |
Año | 1998 |
Aplicaciones | Determinación de campos electromagnéticos. Determinación de gradientes de campo eléctrico y campo magnético hiperfino en materiales en función de la temperatura. Caracterización de defectos, fases y propiedades electrónicas de los materiales. |
Sistema Nacional | |
Nro. STAN | |
Palabras clave | Órden de corto alcance, campos electromagnéticos, defectos, impurezas, óxidos, metales, semiconductores, aisladores |
Ubicación | Laboratorio 30 |
Sectores de transferencia CLANAE2010 | 731100, 731900, 742200, 803300 |
Responsable equipamiento | Mario Rentería, Laura Damonte |
Titular del bien | N°1 : UNLP (Fundación Antorchas, donado a la UNLP) N° 2 : UNLP (FOMEC) |
Nro de inventario |
Detalle de los sectores de actividad a los que se puede transferir el servicio de este equipo:
CLANAE2010 | Denominación | Descripción |
---|---|---|
731100 | Investigación y desarrollo experimental en el campo de la ingeniería y la tecnología | |
731900 | Investigación y desarrollo experimental en el campo de las ciencias exactas y naturales n.c.p. | |
742200 | Ensayos y análisis técnicos | |
803300 | Formación de posgrado |
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Accesorios | criógeno, bomba de vacío + |
Aplicaciones | Determinación de campos electromagnéticos. Determinación de gradientes de campo eléctrico y campo magnético hiperfino en materiales en función de la temperatura. Caracterización de defectos + y fases y propiedades electrónicas de los materiales. + |
Año | 1.998 + |
Denominación | Espectrómetro de Correlaciones Angulares Perturbadas Gamma-Gamma (PAC) + |
Descripción | CANBERRA-ORTEC. 2 Espectrómetros (N°1 y N° 2) de 4 detectores de BaF2, sondas 181Hf -111In + |
Institución | IFLP + |
Palabras clave | Órden de corto alcance +, campos electromagnéticos +, defectos +, impurezas +, óxidos +, metales +, semiconductores + y aisladores + |
Responsable equipamiento | Mario Rentería + y Laura Damonte + |
Sectores de transferencia | 731100 +, 731900 +, 742200 + y 803300 + |
Titular del bien | N°1 : UNLP (Fundación Antorchas, donado a la UNLP) N° 2 : UNLP (FOMEC) + |
Ubicación | Laboratorio 30 + |