CETMIC/Difractómetro de rayos X

De Censo General Equipamiento
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Institución CETMIC
Denominación Difractómetro de rayos X
Tipo
Descripción Bruker, modelo D2 Phaser
Accesorios
Año 2014
Aplicaciones Análisis composicional de sólidos cristalinos
Sistema Nacional
Nro. STAN
Palabras clave Difracción de rayos X- Análisis de composición-
Ubicación Laboratorio Instrumental
Sectores de transferencia CLANAE2010
Responsable equipamiento Lic. Martin Morosi
Titular del bien
Nro de inventario

Detalle de los sectores de actividad a los que se puede transferir el servicio de este equipo:

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