CIG/Difractómetro de Rayos X
De Censo General Equipamiento
Revisión a fecha de 17:01 13 ago 2014; CIG (Discusión | contribuciones)
| Institución | CIG |
|---|---|
| Denominación | Difractómetro de Rayos X |
| Tipo | |
| Descripción | Marca PANalytical, modelo X´Pert PRO |
| Accesorios | PW3071/xx Bracket |
| Año | 2009 |
| Aplicaciones | Análisis mineralógicos de roca total y arcillas por Difracción de Rayos X |
| Sistema Nacional | SNRX |
| Nro. STAN | |
| Palabras clave | difracción, rayos x, mineralogía, composición |
| Ubicación | Laboratorio de Raxos X, Planta Baja CIG |
| Sectores de transferencia CLANAE2010 | Empresas petroleras, mineras, de seguridad e higiene y de control delmedio ambiente, Instituciones públicas y privadas de investigación, Instituciones públicas de docencia, asesoramiento y peritajes, Investigación propia del centro, Otros organismo públicos |
| Responsable equipamiento | Dr. Daniel Gustavo Poiré |
| Titular del bien | UNLP |
| Nro de inventario |
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| Accesorios | PW3071/xx Bracket + |
| Aplicaciones | Análisis mineralógicos de roca total y arcillas por Difracción de Rayos X + |
| Año | 2.009 + |
| Denominación | Difractómetro de Rayos X + |
| Descripción | Marca PANalytical, modelo X´Pert PRO + |
| Institución | CIG + |
| Palabras clave | difracción +, rayos x +, mineralogía + y composición + |
| Responsable equipamiento | Dr. Daniel Gustavo Poiré + |
| Sectores de transferencia | Empresas petroleras +, Mineras +, De seguridad e higiene y de control delmedio ambiente +, Instituciones públicas y privadas de investigación +, Instituciones públicas de docencia +, Asesoramiento y peritajes +, Investigación propia del centro + y Otros organismo públicos + |
| Sistema Nacional | SNRX + |
| Titular del bien | UNLP + |
| Ubicación | Laboratorio de Raxos X, Planta Baja CIG + |
