IFLP/Difractómetro Phillips APD

De Censo General Equipamiento
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Institución IFLP
Denominación Difractómetro de polvo Philips
Tipo
Descripción Phillips PW 1700 Difractómetro automático para el estudio de muestras policristalinas y dispositivos de variación de temperatura.
Accesorios goniómetro y cámara de alta temperatura (hasta 1100K) y accesorios para medidas a temperaturas bajas (120K) y medias 600K
Año 1994
Aplicaciones identificación de fases, análisis cualitativo y cuantitativo de fases cristalinas, estudios estructurales (efecto de tensiones y tamaños de grano), variación estructural con la temperatura
Sistema Nacional SNRX
Nro. STAN
Palabras clave Difracción de rayos X, polvos policristalinos, cristalografía de rayos X
Ubicación Laboratorio 12
Sectores de transferencia CLANAE2010 731100, 731900, 742200
Responsable equipamiento Verónica Ferraresi Curotto
Titular del bien UNLP
Nro de inventario

Detalle de los sectores de actividad a los que se puede transferir el servicio de este equipo:

CLANAE2010 Denominación Descripción
731100 Investigación y desarrollo experimental en el campo de la ingeniería y la tecnología
731900 Investigación y desarrollo experimental en el campo de las ciencias exactas y naturales n.c.p.
742200 Ensayos y análisis técnicos
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Aplicacionesidentificación de fases +, análisis cualitativo y cuantitativo de fases cristalinas +, estudios estructurales (efecto de tensiones y tamaños de grano) + y variación estructural con la temperatura +
Año1.994 +
DenominaciónDifractómetro de polvo Philips +
DescripciónPhillips PW 1700 Difractómetro automático para el estudio de muestras policristalinas y dispositivos de variación de temperatura. +
InstituciónIFLP +
Palabras claveDifracción de rayos X +, polvos policristalinos + y cristalografía de rayos X +
Responsable equipamientoVerónica Ferraresi Curotto +
Sectores de transferencia731100 +, 731900 + y 742200 +
Sistema NacionalSNRX +
Titular del bienUNLP +
UbicaciónLaboratorio 12 +