IFLP/Difractómetro Phillips APD
De Censo General Equipamiento
Revisión a fecha de 11:14 22 jul 2019; IFLP (Discusión | contribuciones)
Institución | IFLP |
---|---|
Denominación | Difractómetro de polvo Philips |
Tipo | |
Descripción | Phillips PW 1700 Difractómetro automático para el estudio de muestras policristalinas , geometría theta -2theta, con desacople theta - 2theta y dispositivos de variación de temperatura. |
Accesorios | goniómetro y cámara de alta temperatura (hasta 1100K) y accesorios para medidas a temperaturas bajas (120K) y medias 600K |
Año | 1994 |
Aplicaciones | identificación de fases, análisis cualitativo y cuantitativo de fases cristalinas, estudios estructurales (efecto de tensiones y tamaños de grano), variación estructural con la temperatura |
Sistema Nacional | SNRX |
Nro. STAN | |
Palabras clave | Difracción de rayos X, polvos policristalinos, cristalografía de rayos X |
Ubicación | Laboratorio 12 |
Sectores de transferencia CLANAE2010 | 731100, 731900, 742200 |
Responsable equipamiento | Verónica Ferraresi Curotto |
Titular del bien | UNLP |
Nro de inventario |
Detalle de los sectores de actividad a los que se puede transferir el servicio de este equipo:
CLANAE2010 | Denominación | Descripción |
---|---|---|
731100 | Investigación y desarrollo experimental en el campo de la ingeniería y la tecnología | |
731900 | Investigación y desarrollo experimental en el campo de las ciencias exactas y naturales n.c.p. | |
742200 | Ensayos y análisis técnicos |
Hechos relativos a IFLP/Difractómetro Phillips APD — Búsqueda de páginas similares con +.Ver como RDF
Accesorios | goniómetro y cámara de alta temperatura (hasta 1100K) y accesorios para medidas a temperaturas bajas (120K) y medias 600K + |
Aplicaciones | identificación de fases +, análisis cualitativo y cuantitativo de fases cristalinas +, estudios estructurales (efecto de tensiones y tamaños de grano) + y variación estructural con la temperatura + |
Año | 1.994 + |
Denominación | Difractómetro de polvo Philips + |
Descripción | Phillips PW 1700 Difractómetro automático para el estudio de muestras policristalinas , geometría theta -2theta, con desacople theta - 2theta y dispositivos de variación de temperatura. + |
Institución | IFLP + |
Palabras clave | Difracción de rayos X +, polvos policristalinos + y cristalografía de rayos X + |
Responsable equipamiento | Verónica Ferraresi Curotto + |
Sectores de transferencia | 731100 +, 731900 + y 742200 + |
Sistema Nacional | SNRX + |
Titular del bien | UNLP + |
Ubicación | Laboratorio 12 + |