Diferencia entre revisiones de «IFLP/Difractómetro Phillips APD»
De Censo General Equipamiento
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{{Equipamiento | {{Equipamiento | ||
|Institución=IFLP | |Institución=IFLP | ||
| − | |Denominación=Difractómetro | + | |Denominación=Difractómetro de polvo Philips |
| − | |Descripción=Phillips | + | |Descripción=Phillips PW 1700 Difractómetro automático para el estudio de muestras policristalinas , geometría theta -2theta, con desacople theta - 2theta y dispositivos de variación de temperatura. |
| − | |Aplicaciones= | + | |Accesorios=goniómetro y cámara de alta temperatura (hasta 1100K) y accesorios para medidas a temperaturas bajas (120K) y medias 600K |
| + | |Año=1994 | ||
| + | |Aplicaciones=identificación de fases, análisis cualitativo y cuantitativo de fases cristalinas, estudios estructurales (efecto de tensiones y tamaños de grano), variación estructural con la temperatura | ||
|Sistema Nacional=SNRX | |Sistema Nacional=SNRX | ||
| − | |Palabras clave=Difracción de rayos X, polvos policristalinos, cristalografía | + | |Palabras clave=Difracción de rayos X, polvos policristalinos, cristalografía de rayos X |
|Ubicación=Laboratorio 12 | |Ubicación=Laboratorio 12 | ||
|Sectores de transferencia=731100,731900,742200 | |Sectores de transferencia=731100,731900,742200 | ||
Última revisión de 11:14 22 jul 2019
| Institución | IFLP |
|---|---|
| Denominación | Difractómetro de polvo Philips |
| Tipo | |
| Descripción | Phillips PW 1700 Difractómetro automático para el estudio de muestras policristalinas , geometría theta -2theta, con desacople theta - 2theta y dispositivos de variación de temperatura. |
| Accesorios | goniómetro y cámara de alta temperatura (hasta 1100K) y accesorios para medidas a temperaturas bajas (120K) y medias 600K |
| Año | 1994 |
| Aplicaciones | identificación de fases, análisis cualitativo y cuantitativo de fases cristalinas, estudios estructurales (efecto de tensiones y tamaños de grano), variación estructural con la temperatura |
| Sistema Nacional | SNRX |
| Nro. STAN | |
| Palabras clave | Difracción de rayos X, polvos policristalinos, cristalografía de rayos X |
| Ubicación | Laboratorio 12 |
| Sectores de transferencia CLANAE2010 | 731100, 731900, 742200 |
| Responsable equipamiento | Verónica Ferraresi Curotto |
| Titular del bien | UNLP |
| Nro de inventario |
Detalle de los sectores de actividad a los que se puede transferir el servicio de este equipo:
| CLANAE2010 | Denominación | Descripción |
|---|---|---|
| 731100 | Investigación y desarrollo experimental en el campo de la ingeniería y la tecnología | |
| 731900 | Investigación y desarrollo experimental en el campo de las ciencias exactas y naturales n.c.p. | |
| 742200 | Ensayos y análisis técnicos |
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| Accesorios | goniómetro y cámara de alta temperatura (hasta 1100K) y accesorios para medidas a temperaturas bajas (120K) y medias 600K + |
| Aplicaciones | identificación de fases +, análisis cualitativo y cuantitativo de fases cristalinas +, estudios estructurales (efecto de tensiones y tamaños de grano) + y variación estructural con la temperatura + |
| Año | 1.994 + |
| Denominación | Difractómetro de polvo Philips + |
| Descripción | Phillips PW 1700 Difractómetro automático para el estudio de muestras policristalinas , geometría theta -2theta, con desacople theta - 2theta y dispositivos de variación de temperatura. + |
| Institución | IFLP + |
| Palabras clave | Difracción de rayos X +, polvos policristalinos + y cristalografía de rayos X + |
| Responsable equipamiento | Verónica Ferraresi Curotto + |
| Sectores de transferencia | 731100 +, 731900 + y 742200 + |
| Sistema Nacional | SNRX + |
| Titular del bien | UNLP + |
| Ubicación | Laboratorio 12 + |
