Diferencia entre revisiones de «CIC/»
De Censo General Equipamiento
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|Accesorios=Micromanipulador NARISHIGE, Microscopio NIKON (86750 binocular M/NI) | |Accesorios=Micromanipulador NARISHIGE, Microscopio NIKON (86750 binocular M/NI) | ||
− | |Año= | + | |Año=1996 |
− | |Aplicaciones=Medición de corrientes iónicas, potenciales de acción. | + | |Aplicaciones=Medición de corrientes iónicas, potenciales de acción. |
|Ubicación=Subsuelo ala La Plata, Fac Cs. Médicas UNLP | |Ubicación=Subsuelo ala La Plata, Fac Cs. Médicas UNLP | ||
|Responsable equipamiento=Alejandro Aiello | |Responsable equipamiento=Alejandro Aiello | ||
+ | |Titular del bien=CONICET/UNLP | ||
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Última revisión de 11:55 19 oct 2017
Institución | |
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Denominación | Equipo patch clamp |
Tipo | pesado |
Descripción | |
Accesorios | Micromanipulador NARISHIGE, Microscopio NIKON (86750 binocular M/NI) |
Año | 1996 |
Aplicaciones | Medición de corrientes iónicas, potenciales de acción. |
Sistema Nacional | |
Nro. STAN | |
Palabras clave | |
Ubicación | Subsuelo ala La Plata, Fac Cs. Médicas UNLP |
Sectores de transferencia CLANAE2010 | |
Responsable equipamiento | Alejandro Aiello |
Titular del bien | CONICET/UNLP |
Nro de inventario |
Detalle de los sectores de actividad a los que se puede transferir el servicio de este equipo:
No se han ingresado sectores productivos de transferencia.
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Accesorios | Micromanipulador NARISHIGE, Microscopio NIKON (86750 binocular M/NI) + |
Aplicaciones | Medición de corrientes iónicas + y potenciales de acción. + |
Año | 1.996 + |
Denominación | Equipo patch clamp + |
Responsable equipamiento | Alejandro Aiello + |
Tipo | pesado + |
Titular del bien | CONICET/UNLP + |
Ubicación | Subsuelo ala La Plata, Fac Cs. Médicas UNLP + |