Diferencia entre revisiones de «CIC/»
De Censo General Equipamiento
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|Denominación=Equipo patch clamp | |Denominación=Equipo patch clamp | ||
|Tipo=pesado | |Tipo=pesado | ||
| + | |Accesorios=Micromanipulador NARISHIGE, Microscopio NIKON (86750 binocular M/NI) | ||
| + | |Año=1996 | ||
| + | |Aplicaciones=Medición de corrientes iónicas, potenciales de acción. | ||
| + | |Ubicación=Subsuelo ala La Plata, Fac Cs. Médicas UNLP | ||
|Responsable equipamiento=Alejandro Aiello | |Responsable equipamiento=Alejandro Aiello | ||
| + | |Titular del bien=CONICET/UNLP | ||
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Última revisión de 11:55 19 oct 2017
| Institución | |
|---|---|
| Denominación | Equipo patch clamp |
| Tipo | pesado |
| Descripción | |
| Accesorios | Micromanipulador NARISHIGE, Microscopio NIKON (86750 binocular M/NI) |
| Año | 1996 |
| Aplicaciones | Medición de corrientes iónicas, potenciales de acción. |
| Sistema Nacional | |
| Nro. STAN | |
| Palabras clave | |
| Ubicación | Subsuelo ala La Plata, Fac Cs. Médicas UNLP |
| Sectores de transferencia CLANAE2010 | |
| Responsable equipamiento | Alejandro Aiello |
| Titular del bien | CONICET/UNLP |
| Nro de inventario |
Detalle de los sectores de actividad a los que se puede transferir el servicio de este equipo:
No se han ingresado sectores productivos de transferencia.
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| Accesorios | Micromanipulador NARISHIGE, Microscopio NIKON (86750 binocular M/NI) + |
| Aplicaciones | Medición de corrientes iónicas + y potenciales de acción. + |
| Año | 1.996 + |
| Denominación | Equipo patch clamp + |
| Responsable equipamiento | Alejandro Aiello + |
| Tipo | pesado + |
| Titular del bien | CONICET/UNLP + |
| Ubicación | Subsuelo ala La Plata, Fac Cs. Médicas UNLP + |
