Diferencia entre revisiones de «CIG/Difractómetro de Rayos X»
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Revisión de 17:57 21 feb 2014
Institución | CIG |
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Denominación | Difractómetro de Rayos X |
Tipo | |
Descripción | Marca PANalytical, modelo X´Pert PRO |
Accesorios | PW3071/xx Bracket |
Año | 2009 |
Aplicaciones | Análisis mineralógicos de roca total y arcillas por Difracción de Rayos X |
Sistema Nacional | SNRX |
Nro. STAN | |
Palabras clave | difracción, rayos x, mineralogía, composición |
Ubicación | Laboratorio de Raxos X, Planta Baja CIG |
Sectores de transferencia CLANAE2010 | Empresas petroleras, mneras, de seguridad e higiene y de control delmedio ambiente, Instituciones públicas y privadas de investigación, Instituciones públicas de docencia, asesoramiento y peritajes, Investigación propia del centro, Otros organismo públicos |
Responsable equipamiento | Dr. Daniel Gustavo Poiré |
Titular del bien | UNLP |
Nro de inventario |
Detalle de los sectores de actividad a los que se puede transferir el servicio de este equipo:
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Accesorios | PW3071/xx Bracket + |
Aplicaciones | Análisis mineralógicos de roca total y arcillas por Difracción de Rayos X + |
Año | 2.009 + |
Denominación | Difractómetro de Rayos X + |
Descripción | Marca PANalytical, modelo X´Pert PRO + |
Institución | CIG + |
Palabras clave | difracción +, rayos x +, mineralogía + y composición + |
Responsable equipamiento | Dr. Daniel Gustavo Poiré + |
Sectores de transferencia | Empresas petroleras +, Mneras +, De seguridad e higiene y de control delmedio ambiente +, Instituciones públicas y privadas de investigación +, Instituciones públicas de docencia +, Asesoramiento y peritajes +, Investigación propia del centro + y Otros organismo públicos + |
Sistema Nacional | SNRX + |
Titular del bien | UNLP + |
Ubicación | Laboratorio de Raxos X, Planta Baja CIG + |