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{{Equipamiento
|Institución=IFLP
|Denominación=Microscopio de Fuerza Atómica
|Descripción=Microscopio de Fuerza Atómica, AFM Nt-MDT, SMENA Solver pro/electroimán longitudinal 0. Microscopía de barrido por sondas, fuerza atómica (AFM)
|Año=2008
|Aplicaciones=Caracterización topográfica de superficies. Medidas de propiedades topográficas, eléctricas y magnéticas de superficies
|Sistema Nacional=SNM
|STAN=ST1509
|Palabras clave=caracterización superficies, topografía magnética
|Ubicación=Laboratorio 28
|Sectores de transferencia=731100, 731900, 742200, 
|Responsable equipamiento=Marcos Meyer
|Titular del bien=CONICET
}}