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{{Equipamiento
|Institución=CINDECA
|Denominación=Microscopio Electrónico de Barrido y Microsonda EDS
|Tipo=pesado
|Descripción=PHILIPS, MOD.SEM - 505
|Accesorios=Unidad detectora por rayos X de los elementos del B al U c/ventana de material Sutw (Super Ultra) SDD (Silicon Drift Detector) Marca: Apollo X EDAX Analizador multicanal DPP III PV 8200/01/G3 Marca: EDAX Modelo: DPP III PV 8200/01/G3
|Año=1983
|Aplicaciones=Geología: Estudio morfológico/estructural y análisis químico de las muestras. Materiales: Cerámicos, Semiconductores, Polímeros, etc. Estudios de composición y características granulométricas. Metalurgia: Análisis de falla, características texturales y microanálisis químico. Odontología, Medicina, Botánica: Estudios morfológicos y químicos. Paleontología y Arqueología: Caracterización de aspectos morfológicos y de composición química. Control de Calidad: Seguimiento de procesos tanto morfológicos como composicionales. Peritajes: Estudios de muestras de cualquiera de las áreas antes mencionadas.
|Sistema Nacional=SNM
|STAN=417
|Palabras clave=Microscopio, SEM, MEB
|Ubicación=Subsuelo Edificio CINDECA
|Sectores de transferencia=731100, 731300, 731900, 742200,
|Responsable equipamiento=Lic. Mario Sanchez
|Titular del bien=CONICET
|Nro de inventario=47495
}}