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Equipamiento > Palabras clave : Microscopio estereoscopico trinocular o Patch clamp o Zeiss

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Institución:
CEPAVE (1) · CIC (1) · INTECH (1)
Denominación:
(No hay valores para este filtro)
Aplicaciones:
Se utiliza para medir corrientes iónicaae54d863bcaacf17b3157b39f769c577 (1) · Visualizacion y obtencion de imagenes diff31e075e3449fbcffdd4ae51c2086ef (1) · como también corrientes en bicapas lípidicas. (1) · en diversas lineas de investigacion de la UE (1) · tanto para la observacion como para el registro fotografico y filmico. (1)
Sistema Nacional:
No (1)
STAN:
0 (1)
Palabras clave: (Haga click en la flecha para agregar otro valor)
Sectores de transferencia:
(No hay valores para este filtro)
Titular del bien:
CONICET (1) · Graciela T. Navone (1)

Abajo se muestran hasta 3 resultados comenzando por el n.º 1.

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