Datos de navegación: Equipamiento
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23.99 (1) ·
8.990 (1) ·
B 8.8.1 (10) ·
B 8.8.1. (1) ·
Comunicaciones ópticas (1)
Titular del bien:
Abajo se muestran hasta 87 resultados comenzando por el n.º 1.
Ver (250 previas | 250 siguientes) (20 | 50 | 100 | 250 | 500).
C
- CETMIC/
- CETMIC/Difractómetro de rayos X
- CETMIC/Dilatómetro hasta 1500 C, Netzsch.
- CETMIC/Equipo analizador de DTP
- CETMIC/Equipo analizador de Punto Zero Carga
- CETMIC/Equipo de ATD TG
- CETMIC/Equipo de Difracción de Rayos X
- CETMIC/Equipo de Medida de Módulo de Flexión de materiales refractarios
- CETMIC/Equipo para determinación de módulo elástico
- CETMIC/Equipo para determinar Aplastamiento bajo carga de refractarios "CREEP"
- CETMIC/Equipo para determinar Conductividad Térmica
- CETMIC/Equipo para determinar Punto Isoeléctrico de Pastas
- CETMIC/Equipo para secado adiabatico por aspersión
- CETMIC/Espectrofotómetro UV-Visible
- CETMIC/HPLC
- CETMIC/Horno Eléctrico de cámara hasta 1700°C
- CETMIC/Horno para determinar Aplastamiento bajo carga
- CETMIC/Horno para determinar Variación Lineal Permanente hasta 1600°C
- CETMIC/Inclusora
- CETMIC/Liofilizador
- CETMIC/Metalizadora
- CETMIC/Microdurómetro
- CETMIC/Microscopio Electrónico de barrido
- CETMIC/Microscopio electrónico hasta 500 aumentos
- CETMIC/Molino de alta EnergÃa
- CETMIC/Molino de anillos de alta EnergÃa
- CETMIC/Molino de bolas
- CETMIC/Mufla Eléctrica hasta 1700°C con controlador
- CETMIC/Muflas hasta 1200° C de 0,25m3 de capacidad
C cont.
- CETMIC/Máquina de ensayo mecánico universal
- CETMIC/Parque de moldeado de pastas: Prensa hidráulica y extrudadora
- CETMIC/PorosÃmetro de Intrusión de Mercurio
- CETMIC/Prensa Isostática
- CETMIC/Reómetro Rotacional, automático y programable
- CETMIC/Tamices ASTM
- CETMIC/Ultrasonido de punta
- CIC/Ecógrafo terason T3300
- CIC/Equipo Patch-Clamp
- CIC/Microscopio Confocal
- CIC/Microscopio Diaphot 200
- CIC/Microscopio Ion Optix
- CIC/Microscopio Ion Optix 2
- CIC/Thermo Scientific Ultracentrifuga
- CIOp/
- CIOp/Amplificador
- CIOp/Analizador espectral
- CIOp/Antenas fotoconductoras
- CIOp/Atenuador óptico
- CIOp/Cámara
- CIOp/Cámara rápida
- CIOp/DPSS 532 nm
- CIOp/Empalmadora de fibras ópticas
- CIOp/Espectrofotómetro
- CIOp/Espectrógrafo
- CIOp/Espectrógrafo 0.25
- CIOp/Espectrógrafo 3,5
- CIOp/Espectrógrafo de vacÃo
- CIOp/Espectrógrafo infrarrojo
C cont.
- CIOp/Espejo piezoeléctrico
- CIOp/Fast Camara 13
- CIOp/Filtro espacial
- CIOp/Fotomultiplicador
- CIOp/Fuente emisora láser
- CIOp/Generador
- CIOp/Generador paramétrico
- CIOp/Granulómetro
- CIOp/Instrumental óptico
- CIOp/Laser de Nd:Yag pulsados
- CIOp/Laser de colorante pulsado
- CIOp/Láser (He-Ne)
- CIOp/Láser de Nd:Yag
- CIOp/Láser de Nd:Yag 532 nm.
- CIOp/Medidor de potencia óptica
- CIOp/Medidor de potencia óptica Ando
- CIOp/Mesa holográfica
- CIOp/Mesa holográfica Melles Griot
- CIOp/Modulador espacial de luz
- CIOp/Monocromador
- CIOp/Monocromador 0.5m.
- CIOp/Máquina de corte
- CIOp/Osciloscopio
- CIOp/Osciloscopio digital
- CIOp/Reflectómetro óptico
- CIOp/Sistema PUL amplificador
- CIOp/Sistema PUL amplificador Spitfire PRO-F1K. 1 kHz
- CIOp/Sistema de medición óptico
- CIOp/Tapa de mesa
Ver (250 previas | 250 siguientes) (20 | 50 | 100 | 250 | 500).
